天眼查App顯示,中芯國(guó)際集成電路制造(天津)有限公司、中芯國(guó)際集成電路制造(北京)有限公司及中芯國(guó)際集成電路制造(上海)有限公司聯(lián)合申請(qǐng)了一項(xiàng)名為“GOI測(cè)試結(jié)構(gòu)”的發(fā)明專(zhuān)利,該專(zhuān)利已于2023年6月28日公布,預(yù)計(jì)將于2024年12月31日正式公開(kāi)。
該專(zhuān)利涉及一種新型的GOI(Gate Oxide Integrity,柵氧化層完整性)測(cè)試結(jié)構(gòu),主要用于集成電路制造過(guò)程中的質(zhì)量檢測(cè)。專(zhuān)利的核心技術(shù)在于其獨(dú)特的柵極結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),該結(jié)構(gòu)僅覆蓋基底有源區(qū)的一部分,從而在測(cè)試時(shí)能夠更準(zhǔn)確地評(píng)估柵介質(zhì)層的完整性。
專(zhuān)利摘要顯示,該測(cè)試結(jié)構(gòu)包括基底和柵極結(jié)構(gòu),柵極結(jié)構(gòu)覆蓋基底有源區(qū)的部分區(qū)域,并作為第一測(cè)試端。在柵極結(jié)構(gòu)暴露的基底中設(shè)有拾取端,作為第二測(cè)試端。通過(guò)這種設(shè)計(jì),測(cè)試電流可以在同一有源區(qū)的基底中流動(dòng),避免了淺槽隔離結(jié)構(gòu)對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,從而提高了測(cè)試的可靠性。
該專(zhuān)利的發(fā)明人牛剛、趙曉東和于濤表示,這一技術(shù)突破將有助于提升集成電路制造過(guò)程中的質(zhì)量控制,減少因測(cè)試誤差導(dǎo)致的產(chǎn)品缺陷。
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