天眼查App顯示,上海感圖網(wǎng)絡(luò)科技有限公司近日公開(kāi)了一項(xiàng)名為“晶圓背面缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)”的發(fā)明專(zhuān)利,專(zhuān)利號(hào)為CN202411389128.1。該專(zhuān)利應(yīng)用在晶圓缺陷檢測(cè)領(lǐng)域,通過(guò)確定顯微鏡頭在待檢測(cè)點(diǎn)的目標(biāo)焦距序列,獲取目標(biāo)圖像序列,并進(jìn)行圖像融合處理,最終獲得待檢測(cè)晶圓背面的缺陷檢測(cè)結(jié)果。
該技術(shù)的核心在于通過(guò)圖像融合處理,節(jié)省晶圓圖像融合的時(shí)間,從而提高晶圓背面缺陷檢測(cè)的效率。這一創(chuàng)新方法有望在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域帶來(lái)顯著的技術(shù)進(jìn)步,提升生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。
上海感圖網(wǎng)絡(luò)科技有限公司位于上海市閔行區(qū),專(zhuān)注于圖像處理和人工智能技術(shù)的研發(fā)。此次公開(kāi)的專(zhuān)利展示了公司在晶圓檢測(cè)領(lǐng)域的技術(shù)實(shí)力,未來(lái)有望在半導(dǎo)體行業(yè)中得到廣泛應(yīng)用。
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