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秦寧
31分鐘前
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上海安路信息科技股份有限公司發(fā)布新型芯片同步開關噪聲測試方法
上海安路信息科技股份有限公司發(fā)布新型芯片同步開關噪聲測試方法
2025-01-01 14:10:01
天眼查App顯示，上海安路信息科技股份有限公司在2024年9月23日申請了一項名為“芯片的同步開關噪聲測試方法、裝置及存儲介質”的發(fā)明專利，該專利已于2024年12月31日公布。這項技術由翟文婷和沈費欽共同發(fā)明，旨在解決芯片測試中的效率問題。
該方法的核心在于確定待測芯片的被測I/O和干擾源I/O，并在最大驅動電流下進行同步開關噪聲測試。通過這種方法，可以快速、準確地確定其他驅動電流下的芯片同步噪聲測試結果，無需逐一在每一驅動電流條件下進行測試。這不僅節(jié)省了大量的測試時間，還提高了測試的準確性。
上海安路信息科技股份有限公司的這項創(chuàng)新技術，預計將對芯片測試行業(yè)產生重要影響，特別是在提高測試效率和降低成本方面。該公司的這一技術突破，展示了其在芯片測試領域的領先地位和創(chuàng)新能力。
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